晶振加串电容提高可靠性


新型彩电的行频预激励信号多采用32fH压控振荡(32fH.VCD)而得,其中的503k是关键元件。该晶振一旦漏电,可能导致停振、启动困难、行激励不足、行保护动作、屡烧行管等故障,检修中需特别注意。

    将漏电晶振的晶体(实为两面镀银的压电陶瓷取出,清理其周边(参见附图),可消除漏电。其机理是:受潮后晶片表面陶瓷微粒在外加直流电力场的作用下“爬电”形成一些微小的“短路桥”(放大镜下可见其黑细纹,从而导致其边缘漏电。刮去晶片边缘的表层,也就是清除了“短路桥”漏电得以消除。必须指出,只要晶振两端存在直流电位差,再次受潮的晶片仍可能“爬电”。换名话说,如此处理的晶振虽可应急使用,但存在隐患,可靠性不高),本地的夏季高温潮湿。采用上法修理的机子返修率较高。

为根治晶振漏电,先密封晶振以防潮,再在晶振上加串10nF/63V聚酯以隔离直流,经此改进,再无返修。10nF在500kHz时的等效仅为32Ω,基本上不会影响到谐振。

产品机中也有在500kHz晶振上串电容者,例如佳丽EC2505型彩电即是。检修中发现,该机的此晶振即使轻微漏电也可正常工作(晶振用R×10k挡测量时指针偏转一半,相当于耐压为7V),这为串电容提高可靠性提供了佐证。

受此启发,还挽救了一批频率合格而耐压不够的晶振,以往的经验是要求晶振的耐压至少要在15V以上(R×10k挡测量时基本看不出漏电),现在的试验中,只要晶振的耐压高于10V(R×10k挡测量时指针偏转小于1/3者,将其加串10nF电容后再接入,可安全使用。

有鉴于此,检修或换用行振荡500kHz晶振时最好加串一只10nF电容,以提高其可靠性。